"Simulation of electron emission from laser-irradiated pyroelectric crystals",
T. Komatsu, F. Wakaya, S. Abo, M. Takai, T. Masuzawa, H. Mimura,
submitted to J. Vac. Sci. & Technol. B
2017年度の4年生だった小松くんの研究成果を
英文ジャーナル論文に投稿しました。
"Detection of nonmagnetic metal thin film using magnetic force microscopy",
F. Wakaya, K. Oosawa, M. Kajiwara, S. Abo, M. Takai,
Appl. Phys. Lett. 113, 261601 (2018).
磁気力顕微鏡がナノ領域の金属探知に使えることを,初めて主張した論文です。
なかなか画期的です(自画自賛です)。
Appl. Phys. Lett. Editor's Pick に選ばれました。
"Interaction between eddy currents induced by oscillating magnetic moment in magnetic-force microscopy",
F. Wakaya and K. Oosawa,
presented at 31st International Microprocesses and Nanotechnology Conference,
Sapporo, Japan, November 13-16, 2018
"Simulation of Electron Emission from Laser-Irradiated Pyroelectric Crystal",
T. Komatsu, S. Abo, F. Wakaya, M. Takai, T. Masuzawa, H. Mimura,
Technical Digest of the 31st International Vacuum Nanoelectronics Conference,
pp.80-81, Kyoto, Japan, July 9-13, 2018, open at IEEE Xplore on November 5, 2018.
焦電結晶にレーザーを照射したときの電子放出についてのシミュレーション結果を国際会議で報告しましたが,
その Technical Digest が IEEE Xplore で公開されました。
"Electron emission from laser-irradiated pyroelectric crystal (invited)",
F. Wakaya, S. Abo, M. Takai, T. Masuzawa, H. Mimura,
presented at 10th Japan-Korea Vacuum Nanoelectronics Symposium,
Hachinohe, Japan, Octorber 12-14, 2018.
"Simulation of Electron Emission from Laser-Irradiated Pyroelectric Crystal",
T. Komatsu, S. Abo, F. Wakaya, M. Takai, T. Masuzawa, H. Mimura,
presented at 31st International Vacuum Nanoelectronics Conference,
Kyoto, Japan, July 9-13, 2018.
"CNT 電子源を用いた X 線除電装置の 除電性能の評価"(招待講演),
若家冨士男,岡脇周平,阿保智,山下隼人,阿部真之,高井幹夫,
第14回真空ナノエレクトロニクスシンポジウム,浜松,2017年3月2-3日
"Characterization of X-ray charge neutralizer using carbon-nanotube field emitter",
S. Okawaki, S. Abo, F. Wakaya, H. Yamashita, M. Abe, M. Takai,
Jpn. J. Appl. Phys. 55, 06GF10 (2016)
カーボンナノチューブを使った
電子源をX線源として使って,
それを静電気の除去装置に応用した論文です。
"Maskless laser processing of graphene",
F. Wakaya, T. Kurihara, N. Yurugi, S. Abo, M. Abe, M. Takai,
Microelectronic Eng. 141, 203-206 (2015)
グラフェンを層数選択的に基板から取り除くことができるレーザープロセスに関する論文です。
けっこう画期的です(自画自賛です)。